*品 ?????牌: ?天光測控 天光測控 ST-PC-X半導體器件老化測試篩選系統,半導體器件老化測試,功率半導體老化測試,IGBT老化評估檢測,西安天光測控技術有限公司
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天光測控 ST-PC-X半導體器件老化測試篩選系統

  • 價格

    ¥248000
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    1
  • 產品標簽

    半導體器件老化測試,功率半導體老化測試,IGBT老化評估檢測
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西安天光測控技術有限公司

  • 聯系人:郭女士
  • 官網地址:www.xatgck.com
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  • 所在地:陜西省-西安市-雁塔區陜西省西安市高陵區涇環北路1798號11-303
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柜式
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品牌 :
天光測控
測量范圍 :
Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等半導體器件的環境老化
規格 :
HTRB高溫反偏,HTGB高溫柵偏,H3TRB高溫高濕反偏

產品詳情

Product details

*品 ?????牌: ?天光測控

*型 ?????號: ?ST-PC-X

*用 ?????途: ?可測試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等半導體器件的環境老化狀態,作評估篩選檢測。

*測 試類 別: ?HTRB高溫反偏,HTGB高溫柵偏,H3TRB高溫高濕反偏1、可以通過計算機設定試驗參數(Vce、Ices、Tc、時間、采樣周期)和監控參數(Vce、Ice、Tc、T,實時采集并記錄試驗過程中每個工位的溫度(Tc)、時間、電壓、漏電流等,并可隨時瀏覽數據。

2、?當被測器件失效時(Ices超限),系統能自動檢測、報警,并可及時切斷高壓電源(不需要中斷加熱),停止試驗,該失效點的詳細數據會被記錄下來,并記錄失效時間節點。

使用說明:

1、可以通過計算機設定試驗參數(Vce、Ices、Tc、時間、采樣周期)和監控參數(Vce、Ice、Tc、T,實時采集并記錄試驗過程中每個工位的溫度(Tc)、時間、電壓、漏電流等,并可隨時瀏覽數據。

2、?當被測器件失效時(Ices超限),系統能自動檢測、報警,并可及時切斷高壓電源(不需要中斷加熱),停止試驗,該失效點的詳細數據會被記錄下來,并記錄失效時間節點。

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*關于售后:質保一年,提供免費上門巡檢服務;客服7*24小時開通/電腦遠程服務。

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